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立式光学计 |
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一、仪器用途
立式光学计是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块、一级精度柱型规以及各种圆柱形、球型、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,亦可用来控制精密零件的加工。
二、技术参数:
被测件最大长度 |
180mm |
分划板分度值 |
0.001mm |
总放大倍数 |
1000x |
测量压力 |
(2 ± 0.2)N |
仪器体积 |
34 X 16 X 41 cm |
仪器重量 |
30kg |
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立式光学计 LG-1 |
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一、仪器用途
立式光学计是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸.它可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量.
立式光学计头部亦可作为一个独立体,在科研、生产过程控制及在线检测等方面,对被测件作微小位移测量。
二、技术参数:
被测件最大长度 |
180mm |
测量范围 |
>= (±0.1mm) |
最小显示值 |
0.0001mm |
测量力 |
(2 ± 0.2)N |
示值变动性 |
0.0001mm |
最大不确定度 |
±0.00025mm |
仪器体积 |
30 X 17 X 41 mm |
仪器重量 |
18KG |
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数字立式光学计 JDG-S1 |
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